Produktübersicht
TOPOS - Interferometrische Messsysteme für die berührungslose Ebenheitsmessung von feinbearbeiteten (geläppten und geschliffenen) sowie polierten Präzisionsteilen
Lösung für große Ringe und Flächen - Teile mit einem Durchmesser größer als 100mm können durch Erweiterung des TOPOS 100 mit einem Dreh- oder Kreuztisch gemessen werden
SPI Sichtprüfinterferometer zur visuellen Ebenheitsprüfung von Präzisionsteilen
Software - Programme zur Auswertung von Streifenbildern aus TOPOS, Fizeau-, Michelson- und Twyman-Greem Interferometer sowie zur Dokumentation von Streifenbildern bei Sichtprüfinterferometern